GEIL introduce un nuevo sistema de test exhaustivo para sus memorias

por Javier Rodríguez 06/05/2009 ...

GeIL llama a este proceso DBT (Die-Hard Burn-In Test) que es por otro lado un sistema muy utilizado en fabricación de componentes electrónicos ya que en poco tiempo se somete a las piezas a altas temperaturas, mayores que las que alcanzarían normalmente en su lugar de uso real, para reducir notablemente el número de memorias mas “débiles” que se comercializaran posteriormente.

De este modo se descartan las memorias que tendrían fallas con más facilidad logrando una calidad productiva superior. GeIL introducirá este sistema en toda su gama de memorias, tanto en gamas DDR2 como DDR3, ya sean de alto rendimiento como memorias más convencionales.

Con este nuevo sistema GeIL mantiene su apuesta por disponer de una gama completa de productos, tanto de alto rendimiento como convencionales, a la vez que aumenta la fiabilidad de forma drástica no solo a corto plazo sino también a medio y a largo.

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