Un usuario está sometiendo a una prueba de escritura prolongada a un SanDisk SSD P4 de 64 GB lanzado en 2010. Los registros que ha publicado muestran 9.019.993 GB escritos por el sistema anfitrión, una cifra ligeramente superior a 9 PB. La unidad todavía responde y permite continuar el experimento, aunque ya acumula errores de lectura que impiden considerarla completamente funcional.
El propietario describe el SSD como un dispositivo con 16 años de antigüedad. Sus datos SMART también recogen 61.625 horas de encendido, equivalentes a algo más de siete años de funcionamiento acumulado, y 1.173 ciclos de arranque. Son cifras aportadas por el usuario y no proceden de una prueba supervisada por SanDisk o por un laboratorio independiente.
Los 9 PB multiplican por 225 la resistencia especificada
El manual técnico publicado por SanDisk en 2010 asignaba al SSD P4 de 64 GB una resistencia de 40 TBW, es decir, 40 TB escritos. Dividir los aproximadamente 9.020 TB registrados entre aquella especificación arroja un resultado cercano a 225. La prueba ha superado ampliamente el volumen para el que se diseñó la unidad, aunque el TBW del fabricante tampoco representa una fecha exacta de avería.
El modelo utilizaba una interfaz SATA II de 3 Gbps y se comercializó en capacidades comprendidas entre 4 y 128 GB. Sus 64 GB parecen diminutos frente a los SSD actuales, pero también permiten completar un mayor número de escrituras equivalentes de la unidad con un volumen absoluto determinado.
En este caso, los datos escritos divididos entre la capacidad dan aproximadamente 140.937 vueltas completas. Esa operación explica la cifra de ciclos difundida por el usuario, pero no significa que cada celda NAND haya soportado exactamente 140.937 ciclos físicos de programación y borrado. El controlador distribuye las escrituras entre las celdas y sus operaciones internas pueden diferir de los datos enviados por el ordenador.
El indicador de salud permanece en «Good», pero existen errores
Una captura de la aplicación de diagnóstico muestra el estado general del SSD como «Good». Ese rótulo puede resultar engañoso si se observa de forma aislada: el registro detallado incluye errores UNC, correspondientes a datos que el sistema no ha podido corregir durante una lectura. Los fallos aparecen en el sector lógico inicial, LBA 0, una zona especialmente delicada porque puede contener información necesaria para arrancar o identificar una partición.
El SSD sigue aceptando operaciones, pero la presencia de errores incorregibles demuestra que ha comenzado a perder fiabilidad. Un estado SMART favorable indica que determinados valores normalizados no han atravesado los umbrales programados por el fabricante. No garantiza que todos los sectores sean legibles ni que la unidad pueda conservar nuevos datos sin fallos.
También conviene recordar que varios atributos SMART de las unidades SATA antiguas dependen de la interpretación definida por cada fabricante. La lectura global y el historial de errores deben analizarse conjuntamente, en especial cuando el dispositivo ha rebasado tantas veces su resistencia prevista.
El experimento resulta llamativo por el volumen de escritura soportado por un SSD de primera generación. Aun así, no permite trasladar su resultado a todas las unidades P4 ni compararlo directamente con la resistencia de modelos modernos, cuyas controladoras, memoria NAND y métodos para calcular el desgaste son diferentes.
El SanDisk P4 continúa operativo después de registrar más de 9 PB, pero ya devuelve errores incorregibles en el primer sector lógico. Su estado actual sirve para observar cuánto puede prolongarse el funcionamiento más allá de los 40 TBW oficiales, no para confiarle la única copia de información importante.
Fin del Artículo. ¡Cuéntanos algo en los Comentarios!
